Настольный флуоресцентный спектрометр полного отражения NANOHUNTER II
Новое поколение настольного рентгеновского флуоресцентного спектрометра полного отражения NANOHUNTER II от компании Rigaku дает возможность проводить высокочувствительный элементный анализ жидкостей с ультранизкими следовыми концентрациями, вплоть до ppb (частей на миллиард). Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия полного отражения это метод, в котором прямой пучок рентгеновского излучения лишь слегка касается и скользит по поверхности образца, тем самым обеспечивая низкий уровень фона и высокую чувствительность в обнаружении следовых концентраций элементов.
Молниеносный анализ элементов следовых концентраций и аттестация тонких пленок
NANOHUNTER II
Применение метода TXRF для анализа следовых концентраций в сфере защиты окружающей среды
По причине все большего ужесточения экологических норм и требований по отношению к охране окружающей среды, в настоящее время существует потребность в простом методе по определению химического анализа на уровне вплоть до ppb для сточных вод и заводских отработанных жидкостей.
Используя спектрометр NANOHUNTER™ II, анализ вплоть до уровня ppb становится возможным даже при очень небольших размерах образца, просто путем добавления капли жидкости на держатель, ее сушки, а затем проведения измерения. Так же легко может быть выполнен и количественный анализ с использованием внутренних стандартных образцов.
Настольный TXRF спектрометр с 600 Вт рентгеновской трубкой
Анализатор NANOHUNTER II сочетает в себе полностью автоматизированную систему юстировки оптической оси, обеспечивая высокочувствительный анализ, в удобном и компактном настольном приборе, позволяющую быстро и бесперебойно развернуть и начать работу. Высокомощный 600 Вт рентгеновский источник, недавно разработанное зеркало (оптика), современный SDD детектор с большой активной зоной и 16 позиционный автоматический загрузчик обеспечивают высокую скорость и производительность измерений.
Принцип работы метода полного отражения
Прямой пучок рентгеновского излучения падает на образец под малым углом к поверхности (ниже критического значения для полного отражения рентгеновских лучей). В результате, практически все излучение отражается и не попадает на полупроводниковый детектор (SDD). Это приводит к значительному уменьшению вклада фона в измеренных энергодисперсионных флуоресцентных спектрах. Эффективно возбуждая элементы, находящиеся на поверхности, и практически полностью исключает вклад фонового сигнала. Технология полного отражения обеспечивает чрезвычайно высокую производительность соотношения Сигнал/Шум, что в результате приводит к ультра высокой чувствительности прибора в обнаружении следовых концентраций.
Технология Gi-XRF для составления профиля тонких пленок по глубине
В областях изучения поверхности твердого тела существует потребность в анализе (в первую очередь для тонких и толстых пленок), при котором образец анализируется чуть глубже поверхностного слоя. Для такого рода анализов существует методика, называемая рентгеновская флуоресценция падающего скользящего пучка (GI-XRF). При попадании такого пучка на поверхность образца, элемента на и под поверхностью начинают избирательно возбуждаться путем изменения угла падения рентгеновского источника. Поскольку спектрометр NANOHUNTER II имеет варьируемый угол падения, становится возможным анализ поверхности и приповерхностных слоев и составление глубинного профиля. Данная техника широко применима для наноструктурных исследований.
Главные преимущества:
Лучший настольный TXRF спектрометр а мире!
600 Вт рентгеновский источник;
Современный SDD детектор;
Не требует внешнего источника охлаждения;
16-и позиционный загрузчик образцов;
Количественный анализ с ультравысокой чувствительностью – обнаружение следовых концентраций на уровне ppb;
Проведение анализа в воздушной и инертной средах (He, N2);
