Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр NEX DE
Новая премиальная модель Rigaku NEX DE представляет собой высококлассный и высокопроизводительный настольный энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (EDXRF), охватывающий широкий диапазон анализируемых элементов и оснащенный простым программным обеспечением QuantEZ на базе операционной системы Windows®.NEX DE предлагает вам неразрушающий метод анализа элементного состава от натрия до урана в образцах с практически любой матрицей: от металлов и сплавов до порошков, жидкостей и шламов.
Элементный анализ от Na11 до U92 с высоким разрешением
XRF элементный анализ в лаборатории, на заводе и в полевых условиях
Разработанный специально для эксплуатации в тяжелых промышленных условиях, будь то завод или полевые условия, превосходная аналитическая мощность, гибкость и простота NEX DE дополняют его широкую привлекательность для постоянно расширяющихся областей применения, будто то научные и промышленные исследования, образование, объемные RoHS инспекции, а так же контроль на промышленности или производстве. Независимо от поставленной задачи, будь то базовый контроль качества (QC) или более утончённые варианты, такие как аналитический контроль качества (AQC), гарантия качества (QA) или статистические процессы контроля (например, Six Sigma) – NEX DE является надежным решением для проведения рутинного элементного анализа.
XRF анализ с 60 кВ рентгеновской трубкой и SDD детектором
60 кВ рентгеновская трубка с современным SDD® детектором с Пельтье охлаждением обеспечивают непревзойденную и долгосрочную повторяемость результатов с превосходным разрешением пиков. 60 кВ трубка, наряду с высоким эмиссионным током и многочисленными автоматическими фильтрами прямого пучка, обеспечивают широкую область применений и низкие пределы обнаружения.
Опции для XRF анализа: автозагрузчик, вакуумная камера, гелиевая продувка (очистка) и без эталонный метод фундаментальных параметров
Опционально доступны: метод фундаментальный параметров, набор разных автоматических загрузчиков образца, приставка с вращением образца, а также гелиевая очистка или вакуумная камера для повышения чувствительности обнаружения легких элементов.
Главные особенности:
Неразрушающий метод элементного анализа от натрия Na11 до урана U92
Анализ твердых, жидких, порошковых проб и тонких пленок
Мощное программное обеспечение QuantEZ на базе операционной системы Windows®
Современный FAST SDD® детектор для обеспечения превосходной статистики счета
Разработанный специально для эксплуатации в жестких промышленных и полевых условиях
Система автоматической замены фильтров на прямом пучке для повышения чувствительности измерения (особенно легких элементов)
Не имеющее аналогов соотношение цена/производительность
