Корпорация E-Globaledge

Благодаря нанотехнологиям в различных областях деятельности стали находить применение такие новые материалы, как геномы (белки), полупроводниковые материалы, высокополимерные материалы, экологические материалы и т.д. Прибор рентгеноструктурного анализа NANO-Viewer (измерительный прибор малоуглового рентгеновского рассеяния) осуществляет характеризацию этих передовых материалов, начиная с молекулярного уровня (1 нм ~ 100 нм макроструктуры) и кончая атомным уровнем (0.2 нм ~ 1 нм микроструктуры).

Спецификация и характеристики прибора

Наблюдая изменение структуры под воздействием температуры, влажности и магнитного поля, можно охарактеризовать функциональные свойства материалов. Например, можно охарактеризовать структуру ионообменной мембраны топливного элемента (температура и влажность), жидких кристаллов (температура и магнитное поле), сополимеров высокополимерных материалов (температура и концентрация) и т.д.
Стала возможной трудноосуществимая предыдущими лабораторными приборами характеризация функциональных свойств биоматериалов, характеризация тонких пленок в плоскости методом малоуглового рассеяния, характеризация самоорганизации ультрамалых частиц.
Благодаря точечно - конвергирующей Confocal Max-Flux (CMF) Optic оптике с фокусирующим рентгеновское излучение зеркалом (многослойным пленочным зеркалом), получают чистое входящее рентгеновское излучение высокой интенсивности от 3×107 до 6×108 импульсов в секунду (cps) (интенсивность меняется в зависимости от вида щели).
Юстировка CMF Optic точечно - конвергирующей оптики очень проста. Для проведения измерения в идеальных условиях достаточны 2 настройки: перемещение вперед и назад вдоль оси и изменение угла входящего пучка (θ).
Поскольку образец располагается вблизи точки схождения, площадь экспозиции рентгеновского излучения мала, поэтому можно проводить измерения даже малых образцов. Даже капиллярные и т.д. образцы, образцы в кюветах, для которых важна малая площадь экспозиции рентгеновского излучения, измеряются без потери интенсивности.
Длина камеры (расстояние от образца до детектора) в зависимости от растяжения или сжатия металлической гофрированной оболочки (изменение длины вакуумного прохода) может меняться от 400 мм до 700 мм.
Диапазон измерений: возможно проведение измерений от малого угла 2θ=0.07°（q=0.05 нм-1）до широкого угла 2θ=45°（q=31.21 нм-1）.
Чтобы избежать воздушного рассеивания, рассеивания от вакуумной экранной мембраны, систему щелей, образец и даже детектор полностью помещают в вакуум.