О компании | Новости | Контакты | Сервис Регистрация     Вход
Аналитическое оборудование | Телевизионное оборудование Поиск Ru | En
О Rigaku
   

ZSX Primus IV

Сканирующий волнодисперсионный рентгеновский спектрометр ZSX Primus IV

 

Новый ZSX Primus IV является продолжением линейки сканирующих волнодисперсионных флуоресцентных спектрометров Primus с верхним расположением оптики. Прибор гарантирует проведение быстрого количественного анализа основных и второстепенных элементов от бериллия до урана для большинства видов образцов, с минимальным числом стандартных образцов.

ZSX Primus IV

 

Новое программное обеспечение: система интеллектуального помощника ZSX Guidance


Система ZSX Guidance окажет вам помощь во всех аспектах проведения флуоресцентного анализа и анализа полученных данных. Убеждены в том, что точный и достоверный анализ может быть выполнен только профессиональным специалистом? Забудьте об этом, теперь это в прошлом. Программное обеспечение ZSX Guidance со встроенными узкопрофильными знаниями об РФА анализе и «Ноу-хау» от опытных специалистов, позаботится обо всех тонких настройках. Для получения высококлассного результата, оператору остается только задать в программу базовую информацию об образцах, анализируемые элементы и состав эталона. С помощью качественных спектров, автоматически устанавливается оптимальный уровень фона, параметры корректировки (включая наложение линий) и измеренные отражения с наименьшим перекрытием.


Исключительная эффективность в определении легких элементов с инвертированной оптикой для максимальной надежности


ZSX Primus IV оснащен инновационной конфигурацией оптический системы, расположенной сверху. Вам больше никогда не придется заботиться о загрязнении оптической системы или простое работы прибора по причине необходимости очистки камеры образца. Оптическая системы расположенная сверху устраняет все проблемы, связанные с загрязнением и увеличивает эффективное время работы прибора. Обладая превосходной производительностью и гибкостью для анализа образцов любой сложности ZSX Primus IV оснащен рентгеновской трубкой с торцевым окном толщиной всего 30 мкм – самым тонким из доступных на сегодняшний день. Все это обеспечивает непревзойденное качество и точность в определении элементов с низким атомным номером (Low-Z).

Картографирование и многоточечный РФА анализ


В сочетании с самым современным пакетом картографического анализа, спектрометр ZSX Primus IV позволяет проводить детальный спектрометрический анализ образца и обеспечивает пользователя аналитическими данными, которые не просто получить при помощи других аналитических методик. Пакет картографического анализа позволяет определять степень гомогенности образца, а так же наличие и распределение включений/примесей. Доступный многоточечный анализ также помогает устранить ошибки, связанные с отбором проб в гетерогенных материалах.


Метод фундаментальных параметров SQX с программным обеспечением EZ-scan


EZ-scan дает возможность пользователю проводить элементный РФА анализ неизвестных образцов без любых предварительных настроек. Эта экономящая время функция требует об оператора только нескольких нажатий мышки и ввода названия образца. В комбинации с методом фундаментальных параметров SQX, программа обеспечивает наиболее точные и быстрые результаты элементного анализа. SQX способен в автоматическом режиме корректировать все матричные эффекты, включая перекрытия линий. Так же SQX способен корректировать эффекты, вызванные вторичным возбуждением фотоэлектронов (легкие и ультра-легкие элементы), варьировать параметры атмосферы, устранять влияния примесей и эффекты от различных размеров образца. Повышенная точность анализа достигается за счет использования внутренних библиотек (поиск и сопоставление пиков) и безупречных программных алгоритмов программы поиска.


Главные преимущества:

 

  • Анализ элементов от Be4 до U92;
  • Уменьшенные габариты: требуется меньше ценного лабораторного пространства;
  • Удобный интерфейс для проведения рутинных измерений;
  • Система интеллектуального помощника ZSX Guidance;
  • Цифровой многоканальный анализатор (D-MCA);
  • ПО EZ-scan для точного и быстрого анализа неизвестных образцов модифицированным; методом фундаментальных параметров SQX;
  • Микроанализ: анализ образцов менее 500 мкм;
  • Оптическая система расположенная сверху устраняет проблемы с загрязнениями;
  • Картографирование: карта элементного состава / распределение элементов;
  • Камера образцов всегда находится в вакууме.

 

 

 

 

 
Москва, Россия, 123610, 12, Краснопресненская наб., Центр Международной Торговли, М-2, 15 этаж, офис 1512
+7 (495) 967 0959
Powered by Korgh