E-Globaledge Corporation РегистрацияВход
Телевизионное оборудованиеАналитическое оборудование RigakuМедицинское оборудование RuEn
Поиск
О RigakuНовости Rigaku
 
 

NANOHUNTER II

Настольный флуоресцентный спектрометр полного отражения NANOHUNTER II

 

Новое поколение настольного рентгеновского флуоресцентного спектрометра полного отражения NANOHUNTER II от компании Rigaku дает возможность проводить высокочувствительный элементный анализ жидкостей с ультранизкими следовыми концентрациями, вплоть до ppb (частей на миллиард). Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия полного отражения это метод, в котором прямой пучок рентгеновского излучения лишь слегка касается и скользит по поверхности образца, тем самым обеспечивая низкий уровень фона и высокую чувствительность в обнаружении следовых концентраций элементов.

 

Молниеносный анализ элементов следовых концентраций и аттестация тонких пленок

NANOHUNTER II

 

Применение метода TXRF для анализа следовых концентраций в сфере защиты окружающей среды


По причине все большего ужесточения экологических норм и требований по отношению к охране окружающей среды, в настоящее время существует потребность в простом методе по определению химического анализа на уровне вплоть до ppb для сточных вод и заводских отработанных жидкостей.
Используя спектрометр NANOHUNTER™ II, анализ вплоть до уровня ppb становится возможным даже при очень небольших размерах образца, просто путем добавления капли жидкости на держатель, ее сушки, а затем проведения измерения. Так же легко может быть выполнен и количественный анализ с использованием внутренних стандартных образцов.


Настольный TXRF спектрометр с 600 Вт рентгеновской трубкой


Анализатор NANOHUNTER II сочетает в себе полностью автоматизированную систему юстировки оптической оси, обеспечивая высокочувствительный анализ, в удобном и компактном настольном приборе, позволяющую быстро и бесперебойно развернуть и начать работу. Высокомощный 600 Вт рентгеновский источник, недавно разработанное зеркало (оптика), современный SDD детектор с большой активной зоной и 16 позиционный автоматический загрузчик обеспечивают высокую скорость и производительность измерений.


Принцип работы метода полного отражения


Прямой пучок рентгеновского излучения падает на образец под малым углом к поверхности (ниже критического значения для полного отражения рентгеновских лучей). В результате, практически все излучение отражается и не попадает на полупроводниковый детектор (SDD). Это приводит к значительному уменьшению вклада фона в измеренных энергодисперсионных флуоресцентных спектрах. Эффективно возбуждая элементы, находящиеся на поверхности, и практически полностью исключает вклад фонового сигнала. Технология полного отражения обеспечивает чрезвычайно высокую производительность соотношения Сигнал/Шум, что в результате приводит к ультра высокой чувствительности прибора в обнаружении следовых концентраций.


Технология Gi-XRF для составления профиля тонких пленок по глубине


В областях изучения поверхности твердого тела существует потребность в анализе (в первую очередь для тонких и толстых пленок), при котором образец анализируется чуть глубже поверхностного слоя. Для такого рода анализов существует методика, называемая рентгеновская флуоресценция падающего скользящего пучка (GI-XRF). При попадании такого пучка на поверхность образца, элемента на и под поверхностью начинают избирательно возбуждаться путем изменения угла падения рентгеновского источника. Поскольку спектрометр NANOHUNTER II имеет варьируемый угол падения, становится возможным анализ поверхности и приповерхностных слоев и составление глубинного профиля. Данная техника широко применима для наноструктурных исследований.


Главные преимущества:

 

  • Лучший настольный TXRF спектрометр а мире!
  • 600 Вт рентгеновский источник;
  • Современный SDD детектор;
  • Не требует внешнего источника охлаждения;
  • 16-и позиционный загрузчик образцов;
  • Количественный анализ с ультравысокой чувствительностью – обнаружение следовых концентраций на уровне ppb;
  • Проведение анализа в воздушной и инертной средах (He, N2);
  • Технология GI-XRF для аттестации тонких пленок;
  • Идеальный инструмент для анализа наноструктур.

 

 

 

 

 
О компанииНовостиКонтактыСервис Регистрация     Вход
Москва, Россия, 123610, 12, Краснопресненская наб., Центр Международной Торговли, М-2, 15 этаж, офис 1512

+7 (495) 967 0959
E-Globaledge Corporation - 2020 Powered by Korgh