NANOPIX
Новая система от компании Rigaku для SAXS/WAXS – NANOPIX представляет собой рентгеновский дифрактометр специально разработанный для изучения и анализа наноструктур. NANOPIX может быть использован как малоугловой дифрактометр для анализа малоуглового рассеяния (SAXS), так и для рассеяния на широких углах (WAXS), что позволяет оценивать многомасштабные структуры от суб-нанометровых до нано-метровых объектов (от 0,1 до 100 нм). Инструмент позволяет достигать наивысшего уровня углового разрешения (Qmin до 0,02 нм-1) среди лабораторных SAXS инструментов на сегодняшний день.
Малоугловое рентгеновское рассеяние (SAXS)
Малоугловое рассеяние это когерентное диффузное рассеяние монохроматических рентгеновских лучей вблизи первичного пучка на апериодических флуктуациях электронной плотности в материалах. Техника малоуглового рассеяния используется для изучения наномасштабных атомных структур или молекул, а так же определения неоднородностей в их строении.
Области применения SAXS/WAXS измерений
Аналитическая измерительная система NANOPIX SAXS/WAXS применима для широкого разнообразия типов материалов, таких как: конденсированные материалы, жидкости, жидкие кристаллы или гели (с упорядоченными и неупорядоченными структурами). В аналитические возможности NANOPIX входят: анализ распределения наночастиц и пор по размерам, трехмерный анализ структуры белковых молекул, идентификация молекулярной сборки/разборки, исследование перспективных и передовых материалов, например пластмассы, армированные углеродным волокном (CFRP).
Сверхвысокая производительность SAXS/WAXS
Измерительная система NANOPIX оборудована высоко ярким и высокомощным микрофокусным рентгеновским источником, высокопроизводительным многослойным оптическим зеркалом OptiSAXS, мало рассеивающими коллимационными щелями ClearPinhole и 2D полупроводниковым детектором HyPix-3000, позволяющий регистрировать дифракцию и рассеяние даже от анизотропных материалов. Для проведения измерений по рассеянию на широких углах опционально доступен детектор HyPix-6000, преимуществами которого является расширенная рабочая область детектора путем объединения двух детектирующих модулей. Одной из главных особенностей конструкции прибора является возможность варьировать расстояние между детектором и образцом, в зависимости от размеров изучаемой структуры, которые меняются от атомной структуры (микроструктуры: 0,2 – 1 нм) до молекулярной структуры (макроструктуры: 1 – 100 нм).
Широкий выбор экспериментальных условий для SAXS/WAXS измерений
NANOPIX позволяет проводить измерения при различных внешних условиях в камере образца, включая температуру и влажность, одновременное проведение ДСК измерений, а так же измерения в комбинации с множеством других внешних устройств и приставок. Контроль и управление внешними условиями во время проведения измерений является основополагающим и решающим фактором в изучении взаимосвязи между структурой и свойствами функциональных материалов.
Главные особенности:
-
Анализ наноструктур – от атомных до молекулярных в диапазоне 0,2 – 100 нм, включая:
-
Анализ распределения наночастиц и пор по размерам;
-
Трехмерный анализ структуры и формы белковых молекул;
-
Морфология и ориентация молекул, анализ формы частиц.
-
Высокопроизводительная оптическая система OptiSAXS на базе технологии многослойных зеркал;
-
Коллимационные щели ClearPinhole;
-
Мощный остро фокусный рентгеновский источник с вращающимся анодом FR-X или MicroMax-007 HF;
-
Двухкоординатные детекторы HyPix-3000/6000;
-
Широкий выбор дополнительных приставок для варьирования внешних условий измерений, в том числе приставка для in-situ ДСК анализа;
-
Наилучшее угловое разрешение среди подобных лабораторных установок (Qmin до 0,02 нм-1);
-
Приставки для GI-SAXS/GI-WAXS измерений.
